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  • 無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量厚度測(cè)量?jī)x
    無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量厚度測(cè)量?jī)x

    無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

    更新時(shí)間:2024-04-30型號(hào):XD-1000瀏覽量:516
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  • 單層/多層厚度測(cè)量?jī)x
    單層/多層厚度測(cè)量?jī)x

    單層/多層厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

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  • 光學(xué)無(wú)接觸膜厚厚度測(cè)量?jī)x
    光學(xué)無(wú)接觸膜厚厚度測(cè)量?jī)x

    光學(xué)無(wú)接觸膜厚厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

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  • 厚度精準(zhǔn)定位小點(diǎn)測(cè)量膜厚儀
    厚度精準(zhǔn)定位小點(diǎn)測(cè)量膜厚儀

    厚度精準(zhǔn)定位小點(diǎn)測(cè)量膜厚儀 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

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  • 微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x

    微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

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  • 臺(tái)式膜厚測(cè)量?jī)x
    臺(tái)式膜厚測(cè)量?jī)x

    臺(tái)式膜厚測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi).

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